QVI家族成员-VIEW高端测量仪系列

由QVI-OGP旗下的VIEW Micro-Metrology是由Micro-Metric和VIEW Engineering – 两家非接触式光学测量仪企业合并而成，两家公司都拥有逾30年的行业技术和经验，其高性能测量系统分为两大系列：擅长测量复杂零部件的高速、高精度坐标测量系统，以及专门用于测量半导体、MEMs晶圆、硬盘磁头滑块、光罩的显微镜系统。

微电子和微机械元件的测量过程要求集高准确度、精确性、可靠性为一体，并能灵活地为手头的应用创建整套解决方案。而VIEW Micro-Metrology每一台测量系统就融入这些特点，使用经过验证的材料和设计制造出持久可靠的高性能工程平台，专注于经验丰富的工程技术应用，将硬件、光学和软件恰到好处的结合起来以解决关键工序的测量问题。

VIEW影像测量仪帮助技术前沿的公司在微制造，数据存储，半导体，医疗设备，汽车零部件，精密加工和注塑件，航天航空器件，太阳能电池和MEMS等领域，开发和控制生产工艺和产品质量，被测的工件特征可小于1微米，具有纳米级的精度性能。

VIEW Micro-Metrology光学测量产品的应用优势：

l      小型移动硬盘驱动：存储臂，冲模和微凹几何图形（swage and dimple geometry），pitch and roll

l      柔性电路板：线宽和轮廓分析

l      磁盘介质：ID，OD，圆度，同轴度，倒角长度

l      锡膏摸板

l      PC板     

l      锡膏高度、面积、体积

l      元件贴装   

l      引线框   

l     电子封装